眾測(cè)機(jī)電研發(fā)生產(chǎn)的薄膜厚度儀THK-01采用機(jī)械接觸式測(cè)量方式，符合ASTM D645、ISO 4593、DIN 53105、JIS K6250、TAPPI T411、BS 3983、GB/T 6672等多項(xiàng)國(guó)內(nèi)外標(biāo)準(zhǔn)，適用于塑料薄膜、薄片、紙張、橡膠、電池隔膜、箔片、無紡布、土工布、硅片等各種材料的厚度精確測(cè)量。

薄膜厚度儀

薄膜厚度儀THK-01主要參數(shù)：

通用名稱：測(cè)厚儀

其他名稱：薄膜測(cè)厚儀、薄膜厚度測(cè)試儀、薄膜厚度測(cè)量?jī)x

測(cè)量范圍：0～2mm（標(biāo)配）；0～6mm、0～12mm（選配）

分辨率：0.1μm

測(cè)試速度：1～25次/min

測(cè)量頭平行度：±2μm（機(jī)械調(diào)整，量塊校驗(yàn)）

重復(fù)性：0.3μm

測(cè)量壓力：17.5±1kPa(薄膜)；50±1kPa(紙張)；

接觸面積：50mm2(薄膜)； 200mm2 (紙張)；

薄膜、紙張任選一種，非標(biāo)可定制

電源：AC220V50Hz/ AC120V60Hz

外形尺寸：300mm(L)×400mm(W)×435mm(H)

約凈重：30Kg

使用注意事項(xiàng)

1.由于不同的材料有著不同的物理特性，因此測(cè)試試件和校準(zhǔn)試塊盡可能用同一種材質(zhì)。

2.在測(cè)量的時(shí)候，探頭應(yīng)始終和試件保持垂直，點(diǎn)接觸探頭更需如此。

3.要保證在測(cè)量的時(shí)候，周圍，沒有什么外部干擾到儀器的工作，如果有的物件會(huì)影響周圍的磁場(chǎng)，那么也會(huì)影響薄膜厚度測(cè)試儀的測(cè)量數(shù)值的準(zhǔn)確度。