塑料薄膜測厚儀又叫膜厚儀、膜厚測試儀、膜厚計(jì)或者鍍層測厚儀（比如GT810F、GT810NF、GT8102等），可無損地測量磁性金屬基體（如：鋼、鐵、合金和硬磁性鋼等）上非磁性涂層的厚度（如鋁、鉻、銅、琺瑯、橡膠、油漆等），以及非磁性金屬基體（如銅、鋁、鋅、錫等）上非導(dǎo)電覆層的厚度（如：琺瑯、橡膠、油漆、塑料等）。X光鍍層測厚儀具有測量誤差小、可靠性高、穩(wěn)定性好、操作簡便等特點(diǎn)，是控制和保證產(chǎn)品質(zhì)量*的檢測儀器，

　　塑料薄膜測厚儀特點(diǎn)：

　　1、滿足各種不同厚度樣品以及不規(guī)則表面樣品的測試需求；

　　2、φ0.1mm的小孔準(zhǔn)直器可以滿足微小測試點(diǎn)的需求；

　　3、高精度移動(dòng)平臺(tái)可準(zhǔn)確定位測試點(diǎn)，重復(fù)定位精度小于0.005mm；

　　4、采用高度定位激光，可自動(dòng)定位測試高度；

　　5、定位激光準(zhǔn)確定位光斑，確保測試點(diǎn)與光斑對(duì)齊；

　　6、鼠標(biāo)可控制移動(dòng)平臺(tái)，鼠標(biāo)點(diǎn)擊的位置就是被測點(diǎn)；

　　7、高分辨率探頭使分析結(jié)果更加精準(zhǔn)；

　　8、良好的射線屏蔽作用；

　　9、測試口高度敏感性傳感器保護(hù)；

　　塑料薄膜測厚儀的優(yōu)勢如下：

　　1、對(duì)于壓敏膠，涂布/紙加工，煙草薄片，水性涂層，熱熔膠等材料，賽默斐視薄膜X光鍍層測厚儀擁有非接觸測量的優(yōu)勢。

　　2、在保證測量速度的基礎(chǔ)上，賽默斐視薄膜X光鍍層測厚儀能夠?qū)⒈粶y物微小的厚度變化完整地呈現(xiàn)出來。

　　3、X光鍍層測厚儀能擁有*的重復(fù)性，預(yù)計(jì)GRR能夠達(dá)到5%左右。

　　隨著科學(xué)技術(shù)的日益進(jìn)步我們不斷的引進(jìn)和創(chuàng)新著鍍層測厚儀的新技術(shù)，以實(shí)現(xiàn)產(chǎn)品的測量的化，但是影響到我們測量數(shù)據(jù)的不只是只有鍍層測厚儀本身的技術(shù)程度，測量的手法及細(xì)節(jié)也會(huì)影響測量的具體數(shù)據(jù)。